STARTECHINSTRUMENTS 제조사 소개

STARTECHINSTRUMENTS 회사 및 제품 소개

회사 개요

Star Tech Instruments는 1989년 설립된 X-ray, EUV, DUV 및 UV 광 및 빔 분석 분야의 글로벌 리더 기업입니다. 1 nm에서 410 nm 파장 대역의 빔 프로파일, 에너지 및 파워 측정, 빔 이미징 솔루션을 제공하며, NIST 추적성(NIST traceability)과 10^-10 torr 진공 호환성을 특징으로 합니다. 반도체, 바이오기술, 의료, 대학 및 국가 연구소 등 다양한 첨단 산업에 맞춤형 및 표준 측정 장비를 공급하고 있습니다.

주요 제품

- Energy and Power Probes: 1 nm~410 nm 파장 대역의 에너지 및 파워를 측정하는 프로브 및 센서 제품군으로, 높은 손상 임계값(10억 펄스 이상), NIST 추적성, 실시간 측정 및 진공 호환성을 제공합니다.

- Beam Profilers and Imaging Systems: X-ray부터 410 nm까지의 빔 프로파일, 이미징 및 강도 분포를 분석하는 시스템으로, 고해상도, 광시야, 편광 비감응 특성을 가지며 다양한 카메라 포맷과 연동 가능합니다.

- System Accessories: 빔 측정 시스템의 성능을 보완하는 RA-45 빔 스플리터, UV 변환 윈도우, 전자 제어 장치 등 관련 부속품 제품군입니다.

주요 서비스

- Custom Engineering Solutions: 표준 제품으로 해결하기 어려운 특수 요구사항을 위해 광학, 전기, 기계 엔지니어링 팀과 자체 기계공장을 통해 맞춤형 측정 시스템 및 빠른 납기 제품을 설계·제작하는 서비스입니다.

- Technical Support & Compliance Services: 제품 문서화, 규정 준수 프로그램, RMA 처리, OEM 제품 지원 및 기술 FAQ를 제공하는 종합 애프터서비스 및 기술 지원 프로그램입니다.